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极化指数吸收比智能绝缘电阻测试仪|兆欧表

更新时间:2017-02-18      浏览次数:1588

GDSJ型极化指数吸收比智能绝缘电阻测试仪|兆欧表于试验室或现场做绝缘测试试验。内含高精度微电流测量系统、数字升压系统。只需要用一条高压线和一条信号线连接试品即可测量。测量自动进行,结果由大屏幕液晶显示,并将结果进行存储。
一、极化指数吸收比智能绝缘电阻测试仪|兆欧表主要特点
1.    采用32位微控制器控制,全中文操作界面,操作方便。
2.    自动计算吸收比和极化指数,并自动储存15秒、1分钟、2分钟、10分钟的每分钟数据便于分析。
3.    输出电流大,短路电流大于5mA。
4.    抗干扰能力强,能满足超高压变电站现场操作。
5.    测试完毕自动放电,并实时监控放电过程。
6.    内附可充电电池和充电器,当不使用背光灯时,充满电可连续使用6~12小时。
二、极化指数吸收比智能绝缘电阻测试仪|兆欧表主要技术性能
     准确度:       ±(10%+5字)
测量范围:     0.1M~1TΩ
试验电压:     设定范围:  0.5Kv~10KV  (500V、1000V、2500V、5000V、10000V共五档) 准确度:  5%±10V                     
短路电流:     >5mA
测量时间:     1分钟~10分钟(与测量方式有关)
充电电源:     180~270VAC  ,50Hz/60Hz±1% (市电或发电机供电)
  工作环境:     温度-10~40℃,相对湿度20~80%。
三、操作部件功能
1.L接线端
“L”为高压输出端,称为线路端,由高压电缆引至被测线端,例如接至电机绕组、电缆线芯。
2.G接线端
“G”称为屏蔽端,用于三电极法测量绝缘材料或电缆的体积电阻,它接至三电极的保护环端。
3.E接线端
“E”称为地端,接至被测物的地、零端。例如电机外壳金属、变压器铁芯、电缆屏蔽层。
四、注意事项及其它
请注意安全,L为高压端!E为地端,必需接大地!1T=1000G 1G=1000M

操作方法

测量操作

进入初始设置画面(图

初始设置画面(图一)

1.初始 测量图标 处于选中状态,下面显示5000v表示测量电压。
(1)    按↑↓键 增大/减小测试电压
(2)    按→键在可以使 时钟图标 存储图标 设置图标 循环处于选中状态
(3)    按启/停键1秒以上,启动测量,显示测量画面(图二)


  显示测量画面(图二)

5000v         表示测试电压
大字体105 M  表示测量的瞬时值
02’45”        表示测量过程中的时间
05-05-24 : 测量日期
15” 表示测量15秒 的数值
01’ 表示测量1分钟 的数值
02’ 表示测量2分钟 的数值
10’ 表示测量10分钟 的数值
    DAR  吸收比  DAR = R60s/R15s
      PI  极化比 PI   = R10m/R60s
         Rm  当处于干扰强或试品容量比较大时候,Rm的数值更加真实的反映试品阻值。
  (4)测量过程按启/停键,或测量结束,显示放电画

放电画面(图三)

600V放电过程的瞬时电压。在这个时候一定不要接触试品和测量线!等放电完毕,建议用户对试品进行人工放电。

  (5)放电完毕之后,进入测量结果存储画面(图四)
     量结果存储画面(图四)

            右半部分数据与测量画面一样,请参考显示测量画面(图二)的说明
            [  007  ]  :表示测量数据存储的序号
            按→键在可以使  存储 退出  007 循环处于选中状态。
在 存储 退出 处于选定状态时候按启/停键回到初始设置画面(图一)
[  007  ] 处于选中状态时候,按→键在可以移动选中的位,按↑↓键修改序号。
2.当 时钟图标 处于选中状态 。
        (1) 按启/停键,进入时间显示与设置画面(图五)

时间显示与设置画面(图五)

        
(2) 退出 处于选中状态 按启/停键 回到初始设置画面(图一)
(3) 设置 处于选中状态 按启/停键 会在日期、时间下面出现小箭头
           按↑↓键修改日期时间。
(4)    修改完毕,按启/停键 设置 会处于选中状态。
(5)    按→键在可以使 设置 与退出 循环处于选中状态。在修改日期时间时候,循环移动小箭头

3.当 存储图标 处于选中状态
        (1) 按启/停键,进入查看存储数据画面(图六)

查看存储数据画面(图六)

        (2)右半部分数据与测量画面一样,请参考显示测量画面(图二)的说明
        (3)[ 000 ] 到[ 007 ] 表示测量序号
(4)按↑↓键 使[ 000 ] 到[ 007 ]处于选中状态,右边显示此序号的数据
(5)按→键 翻页
(6)    按启/停键 回到初始设置画面(图一)


4.当 设置图标 处于选中状态
        (1) 按启/停键,进入设

设置画面(图七)

         (2)按→键   使 退出 背光 声音 循环处于选中状态。
         (3)按↑↓键 改变相应的设置
         (4)按启/停键 回到初始设置画面(图一)

仪器原理简介

结构

                                                    测量电压
      数控调压器
      0~5V                  DC-DC            
                          0-10KV            分压
                                        电路


           
                               测量电路
      控制器                                        试品输入

 


   液晶键盘


4.2各部分功能
    液晶键盘:     负责键盘、显示。
    数控调压器:   采用PWM电路率产0-5V标准输出。
DC-DC 0-10Kv:采用升压变压器,转换,输出0-10kv的直流高压。具有短路保护功能
    分压电路:     0-10KV的高压,转换成0-5付,便于AD采集。
测量电路:     负责数据采集,电流变换等。
控制器 :      将所有上述模块连接,完成测量。

影响电阻或电阻率测试的主要因素

  a.环境温湿度
  一般材料的电阻值随环境温湿度的升高而减小。相对而言,表面电阻(率)对环境湿度比较敏感,而体电阻(率)则对温度较为敏感。湿度增加,表面泄漏增大,体电导电流也会增加。温度升高,载流子的运动速率加快,介质材料的吸收电流和电导电流会相应增加,据有关资料报道,一般介质在70C时的电阻值仅有20C时的10%。因此,测量材料的电阻时,必须指明试样与环境达到平衡的温湿度。
   b.测试电压(电场强度)
  介质材料的电阻(率)值一般不能在很宽的电压范围内保持不变,即欧姆定律对此并不适用。常温条件下,在较低的电压范围内,电导电流随外加电压的增加而线性增加,材料的电阻值保持不变。超过一定电压后,由于离子化运动加剧,电导电流的增加远比测试电压增加的快,材料呈现的电阻值迅速降低。由此可见,外加测试电压越高,材料的电阻值越低,以致在不同电压下测试得到的材料电阻值可能有较大的差别。
  值得注意的是,导致材料电阻值变化的决定因素是测试时的电场强度,而不是测试电压。对相同的测试电压,若测试电极之间的距离不同,对材料电阻率的测试结果也将不同,正负电极之间的距离越小,测试值也越小。
  c.测试时间
  用一定的直流电压对被测材料加压时,被测材料上的电流不是瞬时达到稳定值的,而是有一衰减过程。在加压的同时,流过较大的充电电流,接着是比较长时间缓慢减小的吸收电流,zui后达到比较平稳的电导电流。被测电阻值越高,达到平衡的时间则越长。因此,测量时为了正确读取被测电阻值,应在稳定后读取数值或取加压1分钟后的读数值。
  另外,高绝缘材料的电阻值还与其带电的历史有关。为准确评价材料的静电性能,在对材料进行电阻(率)测试时,应首先对其进行消电处理,并静置一定的时间,静置时间可取5分钟,然后,再按测量程序测试。一般而言,对一种材料的测试,至少应随机抽取3~5个试样进行测试,以其平均值作为测试结果。


  d.测试设备的泄漏
  在测试中,线路中绝缘电阻不高的连线,往往会不适当地与被测试样、取样电阻等并联,对测量结果可能带来较大的影响。为此:
  为减小测量误差,应采用保护技术,在漏电流大的线路上安装保护导体,以基本消除杂散电流对测试结果的影响;
  高电压线由于表面电离,对地有一定泄漏,所以尽量采用高绝缘、大线径的高压导线作为高压输出线并尽量缩短连线,减少,杜绝电晕放电;
  采用聚乙烯、聚四氟乙烯等绝缘材料制作测试台和支撑体,以避免由于该类原因导致测试值偏低。
   e.外界干扰 
   高绝缘材料加上直流电压后,通过试样的电流是很微小的,极易受到外界干扰的影响,造成较大的测试误差。热电势、接触电势一般很小,可以忽略;电解电势主要是潮湿试样与不同金属接触产生的,大约只有20mV,况且在静电测试中均要求相对湿度较低,在干燥环境中测试时,可以消除电解电势。因此,外界干扰主要是杂散电流的耦合或静电感应产生的电势。在测试电流小于10-10A或测量电阻超过1011欧姆时;被测试样、测试电极和测试系统均应采取严格的屏蔽措施,消除外界干扰带来的影响

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